《应用声学》编辑部

文章摘要

刘献铎.声学测微计及其在薄层测厚中的应用[J].,1990,9(2):46

声学测微计及其在薄层测厚中的应用

中文摘要:

文章描述的声学测微计是以监测伪Sezawa波为基础的。假定在半无限大介质的上表面有一薄的复盖层,当层介质中的横波声速较底下介质的横波声速小时,可有许多表面波模式沿层状介质的表面传播,其中基模为瑞利波,第二个模为Sezawa波。实验所用样品中,基片材料为42-合金,上面薄层材料是金。当一平面超声波通过水耦合斜入射到样品上时,在样品表面层激发的前两个模的相速度色散曲线如图1所示,图中k为波数,d为薄层厚度。Sezawa波有一个截止波数,在这个波数,Sezawa波的相速度等于基片中的

英文摘要:

DOI：10.11684/j.issn.1000-310X.1990.02.015

中文关键词: 测微计声学薄层厚度截止波数横波声速表面传播功率谱反射波色散曲线半无限大介质

英文关键词:

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作者	单位
刘献铎

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