文章摘要
刘献铎.声学测微计及其在薄层测厚中的应用[J].,1990,9(2):46
声学测微计及其在薄层测厚中的应用
  
中文摘要:
      文章描述的声学测微计是以监测伪Sezawa波为基础的。假定在半无限大介质的上表面有一薄的复盖层,当层介质中的横波声速较底下介质的横波声速小时,可有许多表面波模式沿层状介质的表面传播,其中基模为瑞利波,第二个模为Sezawa波。实验所用样品中,基片材料为42-合金,上面薄层材料是金。当一平面超声波通过水耦合斜入射到样品上时,在样品表面层激发的前两个模的相速度色散曲线如图1所示,图中k为波数,d为薄层厚度。Sezawa波有一个截止波数,在这个波数,Sezawa波的相速度等于基片中的
英文摘要:
      
DOI:10.11684/j.issn.1000-310X.1990.02.015
中文关键词: 测微计  声学  薄层厚度  截止波数  横波声速  表面传播  功率谱  反射波  色散曲线  半无限大介质
英文关键词: 
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作者单位
刘献铎  
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