文章摘要
亮宇.“多通道数字成像超声探伤设备”项目简介[J].,2006,25(2):89
“多通道数字成像超声探伤设备”项目简介
  
中文摘要:
      高波阻介质下面多层低波阻抗介质的界面脱粘检测是长期以来国内外一直没有解决的世界性难题,称为“二界面问题”。困难主要有两点:其一、高波阻介质与低波阻介质之间的界面两侧波阻抗相差较大,前一介质表面上接收到的界面脱粘反射信号相对入射信号而言是经过了4次镜面屏蔽作用之后的十分微弱的信号;其二、声波在高波阻介质内的多次反射强信号淹没了低波阻介质表面反射的信号。对于高低波阻介质界面间脱粘的超声检测,犹如光学中要看到一个双面镜子后面的物体一样。
英文摘要:
      
DOI:10.11684/j.issn.1000-310X.2006.02.007
中文关键词: 多通道  波阻抗  数字成像  工程项目  介质表面  探伤设备  二界面  界面脱粘  超声检测技术  介质界面
英文关键词: 
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作者单位
亮宇  
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