Page 158 - 《应用声学》2021年第6期

954 2021 年 11 月

当横波声束遇到叶根凹槽时会产生端角 (或底 当横波声束遇到叶根凹槽端角时会产生反射，
部/结构) 反射，出现如图 14 中 S 扫描图中的第一、 出现如图 16 中 S 扫描图中的第一、第二个凹槽结构
第二个凹槽端角 (或底部/结构) 反射信号。当叶根 反射信号。当检测部位有缺陷时，缺陷信号将出现
的第一齿根有缺陷时，缺陷信号将出现在第一个凹 在第一个凹槽和第二个凹槽结构反射波之间。无缺
槽端角反射波、第一个凹槽底部回波之后和第二个 陷时，第一个凹槽与第二个凹槽结构反射波之间不
凹槽结构反射波之前。当叶根无缺陷时，第一个凹 会出现信号，如图15所示。
槽端角反射波及第二个凹槽结构反射波之间不会 对缺陷 N2 信号和噪声信号波幅进行对比，信
出现信号，如图13所示。 噪比达到29.5 dB。
对缺陷 N7 信号和噪声信号波幅进行对比，信
4.4 使用 5L10B0 探头在进汽测、出汽侧平台检
噪比达到20.4 dB。
外弧侧第一齿根
4.3 使用 5L10A25 探头在进汽测、出汽侧平台检 检测缺陷对象为图 10 所示 W1∼W9 中靠近两
内弧侧第一齿根 端的缺陷，探头沿平台外弧边缘移动，实测可检
检测缺陷对象为图 10 所示 N1∼N12 中靠近两 出W1∼W3、W7∼W9共6 个缺陷。以缺陷 W1检测
端的缺陷，实测可检出 N1∼N3、N9∼N12 共 7 个缺 结果为例进行分析，检测图谱如图 17 和图 18 所示。
陷。以缺陷 N2 检测结果为例进行分析，检测图谱 图 17 为无缺陷时相控阵检测图谱，S 扫描图和 A 扫
如图 15 和图 16 所示。图 15 为无缺陷时相控阵检测 描信号中只有结构信号显示。图 18 为有人工缺陷
图谱，S 扫描图和 A 扫描信号中只有结构信号显示。 时相控阵检测图谱，S 扫描图和 A 扫描信号中除了
图 16 为有人工缺陷时相控阵检测图谱，S 扫描图 结构信号显示还有缺陷信号显示。
和 A 扫描信号中除了结构信号显示还有缺陷信号 对缺陷 W1 信号和噪声信号波幅进行对比，信
显示。 噪比大于28.2 dB。

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图 15 内弧无缺陷区域相控阵超声检测 S-A 扫描图谱
Fig. 15 S-A scan pattern for defect-free area of inner arc

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图 16 内弧人工缺陷 N2 S-A 扫描图谱
Fig. 16 S-A scan pattern of N2 defect in inner arc