Page 157 - 《应用声学》2021年第6期

第 40 卷 第 6 期 季昌国等： 在役枞树型叶根原位相控阵超声检测技术 953

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图 12 外弧人工缺陷 W7 相控阵检测 S-A 扫描图谱
Fig. 12 S-A scan pattern of W7 defect in outer arc

式 (1) 中，SNR 表示信噪比，H 信号 表示信号回波幅 4.2 使用 5L12A41 相控阵探头在外弧检测内弧
值，H 噪声 表示噪声回波幅值。计算可知，SNR 为 第一齿根
32.4 dB，完全满足有效检测要求。 检测区域为图 10所示内弧根部，实际可有效检

表 6 缺陷 W7 检测对比表 出 N3∼N9 共 7 个缺陷。以缺陷 N7 检测结果为例进
Table 6 Test comparison table of defect W7 行分析，检测图谱如图 13 和图 14 所示。图 13 为无
缺陷时相控阵检测图谱，S 扫描图和 A 扫描信号中
缺陷 探头放 缺陷信号 噪声信号
探头型号 信噪比/dB
编号 置位置 波幅/% 波幅/% 只有结构信号显示。图 14 为有人工缺陷时相控阵
W7 5L12-A41 内弧 100 2.4 32.4 检测图谱，S 扫描图和 A 扫描信号中除了结构信号
显示还有缺陷信号显示。

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图 13 内弧无缺陷区域相控阵超声检测 S-A 扫描图谱
Fig. 13 S-A scan pattern for defect-free area of inner arc

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图 14 内弧人工缺陷 N7 相控阵超声检测 S-A 扫描图谱
Fig. 14 S-A scan pattern of N7 defects in inner arc