Page 115 - 《应用声学》2022年第6期
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第 41 卷 第 6 期                   沙正骁等: 应用混频超声检测微小缺陷                                           961


                  1.2                                          波相遇点间距为标度、入射波 f 1 的传播方向为正方
                                               ֗ᮠηՂ
                  1.0                           ࣀᮠηՂ           向,构建一维坐标系。改变探头激励延时使两列入
                                                               射波在一维坐标轴上的不同点−n ∼ n处相遇。
                  0.8
                 ࣨϙ/V  0.6                                                      К࠱ฉᄱ᥅ག


                  0.4
                                                                   Tଊ݀    f                   f   T/Rଊ݀
                  0.2
                   0                                                         -3-2 -1 0 1  2  3 ⊲⊲⊲  n
                    0   10  20  30  40  50  60  70  80  90
                                 Ꭵᬞۡງ/mm
                                                                           φ2 mmഷߘ࠵Ꭵᬞ
                    图 10  混频信号强度与缺陷埋深的关系
                                                                         图 11  共线异侧混频定位原理图
               Fig. 10  Relationship between mixing signal
                                                                  Fig. 11 Schematic diagram of collinear opposite
               strength and defect buried depth
                                                                  side mixing positioning
                 从图9可看出,埋深为10 ∼ 80 mm的缺陷处都
             有明显的和频、差频信号,且缺陷的埋深越小,和频、                              设相遇点间隔为∆x,则第n个相遇点距缺陷的
             差频信号幅值越大。从图 10可更直观地看出,同一                          距离 x = n∆x。若要使两列入射波在点 n 处相遇,
             缺陷处,差频信号幅值大于和频信号;和频、差频信                           则T探头的发射延时为
             号幅值与缺陷埋深呈线性负相关。实验结果表明,                                                        n∆x
             可通过有无明显和频、差频信号判断是否存在缺陷。                                        T t = 20 + T a −  6300  ,     (6)

             3.3 微小缺陷的定位                                       式(6)中,T a 为公式(5)中的两探头的延时差。
                 接下来,进行微小缺陷的定位实验:改变探头                              选择埋深 50 mm 的 ϕ0.2 mm 横孔缺陷作为定
             发射延时,使得两列入射波在同一轴线的不同点相                            位实验的测试对象,首先进行粗测。以缺陷为原点,
             遇,并测试不同相遇点的和频、差频信号幅值。得                            在 −15 ∼ 15 mm 之间,设置入射波相遇点,间隔为
             到和频、差频信号幅值随入射波相遇点变化的关系,                           ∆x = 0.5 mm,根据公式 (6) 算得各个相遇点处 T
             实现材料内部微小缺陷的深度定位。                                  探头的激励延时,在最佳探头激励频率条件下,对不
                 如图 11 所示,将探头耦合在试样两侧,两个探                       同入射波相遇点的混合波超外差接收和分析,提取
             头与横孔缺陷处于同一轴线。以ϕ0.2 mm横孔缺陷                         混频信号成分,记录各个点的和频、差频信号幅值。
             为原点、探头与缺陷构成的轴线为坐标轴 x、入射                           粗测得到的实验结果如图12所示。

                       0.30
                            (-0.5, 0.28033)                            (-1, 0.47601)
                                                     ௄Ꭵᬞ         0.5                           ௄Ꭵᬞ
                                                     దᎥᬞ                                       దᎥᬞ
                       0.25
                                                                 0.4
                       0.20
                     ࣨϙ/V  0.15                                ࣨϙ/V  0.3

                                                                 0.2
                       0.10
                                     (0, 0.02785)                            (0, 0.05991)
                       0.05                                      0.1
                        0                                         0
                            -15  -10  -5  0    5    10  15           -15  -10  -5   0    5   10   15
                                     ᄱ᥅གᡰᎥᬞᡰሏ/mm                              ᄱ᥅གᡰᎥᬞᡰሏ/mm
                                       (a) ֗ᮠηՂ                                  (b) ࣀᮠηՂ
                                             图 12  ∆x = 0.5 mm 时的混频信号幅值
                                       Fig. 12 Mixing signal amplitude when ∆x = 0.5 mm
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