Page 133 - 《应用声学》2022年第6期
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第 41 卷 第 6 期 尉浪浪 等: 声学微结构的微流控声场的改进与优化 979
中间声波传输区域布满铜柱微结构,并绘制了其在 点在13 MHz 时,总位移最小为14 × 10 −6 µm,而参
13 MHz声波传输特性,如图9所示。 考点与至相反,在13 MHz时总位移最大,这表明该
T mm 声学微结构为基础的 SAW 芯片不仅能对特定频率
3
4 3 2 1 0
0 的声场产生增益,同时形成的声场特性要明显优于
0.5 普通 SAW 芯片,为突破传统 SAW 芯片难以实现的
T 3 mm 1.0 声场调控现象提供了可能。
1.5
2.0
z 200 mm 5
x 4
y
(a) ʼ፥ፇ 3
2
freq=13 MHz ᛫᭧ von Mises stress (N/m ) ͯረ/(10 -11 m) 2
3
T mm 1 ˗ॷག
4 3 2 1 0 0 ԠᏦག
0 6 -1
5
0.5 -2
T 3 mm 1.0 4 3 (10 5 N/m 2 ) 12.0 12.5 ᮠဋ/MHz 13.5 14.0
13.0
1.5
2.0 2 图 10 中心点与参考点不同频率总位移场
z 200 mm 1
x Fig. 10 Total displacement field at different fre-
y
(b) ᛫᭧ܦԍ quencies between the center point and the refer-
图 9 布满铜柱阵列 ence point
Fig. 9 Array of copper pillars
将图 9(b) 与图 6 相比较发现,将铜柱阵列均匀 3.2 改变声学微结构铜柱数量对声场的影响
布满放置IDT之间,在频率为13 MHz 时,铜柱阵列 为了进一步探究铜柱数量对基片表面声场的
5
4
表面声场从10 增长至10 数量级,局域声场大幅度 影响,分别将声学微结构声铜柱阵列的个数由 5 个
增强。同时,取基板几何中心点和叉指换能器一点 改为 3 个和 7 个,如图 11 所示。随后,分别绘制基片
作为参考点,绘制总位移场,从图10可以看出,中心 表面声压场,如图12所示。
3
3
T mm T mm
0 1 2 3 4 0 1 2 3 4
2.0 2.0
T 3 mm
1.5 1.5
1.0 1.0 T 3 mm
0.5 0.5
0 0
y mm y mm
z z
x (a) ᨷಏ˔˞3˔ x (b) ᨷಏ˔˞7˔
图 11 不同个数的铜柱阵列三维模型
Fig. 11 3D model of copper column array with different numbers
GSFR=13 MHz ᛫᭧ von Mises stress GSFR=13 MHz ᛫᭧ von Mises stress
3
T mm
3
T mm 1
0 9 mm 0 2 3 4 5
mm 1 2 3 4 2.0
8
2.0
7 1.5 4
1.5 6 1.0 T 3 mm
1.0 T 3 mm 5 (10 4 N/m 2 ) 0.5 3 (10 5 N/m 2 )
0.5 4 2
3 0
0 2 y
y 1
z 1 z x
x
(a) ᨷಏ˔˞3˔ (b) ᨷಏ˔˞7˔
图 12 不同个数铜柱阵列表面声场
Fig. 12 Different number of copper column array surface sound field