Page 94 - 《应用声学》2019年第6期
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                 可以看出三种成像方法均能对 5个裂纹缺陷进                         2.2  缺陷的定位及补偿
             行成像识别。幅值全聚焦图像中受到直达波和端面                                缺陷的分辨率受到脉冲持续时间 Lamb波传播
             回波影响,在阵列布置区域和成像边界处会有较大                            速度的影响,即取决于激励信号的周期数和 Lamb
             强度的虚像产生,从而产生盲区,导致成像的对比度                           波的波长。在数值仿真中激励信号采用中心频率
             和信噪比降低,因此不利于没有先验情况下对缺陷
                                                               为 300 kHz 的汉宁窗调制 5 周期正弦信号,产生的
             的识别。而相位全聚焦成像中,由于多周期信号的
                                                               S0 模态 Lamb 波的波长为 18 mm,在一个激励信
             瞬时相位不连续性,在 5 个缺陷处有多个峰值的聚
                                                               号的周期内 Lamb 传播距离为 90 mm。因此即使
             焦点,因此不利于缺陷的定位。在瞬时相位包络全
                                                               是数值仿真远小于波长的 5 mm×2 mm 裂纹缺陷,
             聚焦成像中,5 个缺陷处的聚焦强度较高,所存在的
                                                               在缺陷成像图中会显示为数倍于实际大小的形状,
             虚像强度均低于缺陷处的强度,并且缺陷附近只有
                                                               以相位包络成像中缺陷 3 为例,其成像大小约为
             一个高强度的聚焦点,因此合理设置阈值即可有效
                                                               64 mm×32 mm 的矩形。对于缺陷定位坐标一般
             识别和定位缺陷。为了进一步分析三种成像方式的
                                                               取成像中的缺陷区域的强度最大值处,缺陷 3 的定
             检测效果,以缺陷 3 中心横坐标 x = 550 处提取沿 z
                                                               位坐标为 (555,431),与实际位置 (550,400) 相比较,
             方向分布的强度曲线,其归一化曲线如图4所示。
                                                               缺陷 3 的横坐标定位较为准确,其纵坐标定位误差
                   1.0
                                   ࣨϙЛᐑཥ                       较大。
                                   ᄱͯЛᐑཥ
                   0.8                                             Lamb 波的波速 c 由端面回波到达时间和传播
                                   ᄱͯӊፏЛᐑཥ
                                                               距离计算而得,在成像算法中,由于受Lamb波长及
                  ॆʷӑࣨϙ  0.4                                   激励信号周期的影响,缺陷定位会有相应的 “延迟”
                   0.6
                                                               效应。为了补偿缺陷定位的误差,可以通过波速补
                                                               偿法进行定位补偿,补偿后的波速c由式(6)可得
                   0.2
                                                                              c = 2L/(t + t a /2),        (6)
                    0
                     0     100   200   300   400    500
                                  ᡰሏ/mm
                                                               其中,L 为换能器阵列与边界的距离,t 为端面回
                     图 4  沿缺陷 3 中心 z 方向强度曲线图                   波的到达时间,t a 为激励信号的持续时间。通过仿
               Fig. 4 Strength curve along the z direction of  真信号计算,实际波速 c = 5310 m/s,补偿后波速
               defect 3                                        c = 5020 m/s,波速补偿后的相位包络成像如图 5
                 由 z 方向强度曲线可以看出,幅值全聚焦成像                        所示,补偿后由于波速减小,导致成像图中对端面
             受近场区的直达波和边界处的反射波影响,导致在                            回波信号也进行聚焦。表 1 给出了波速补偿前后
             板的两侧产生较高的声波反射区,缺陷散射回波的                            各个缺陷的定位坐标。经过波速补偿后,5 个缺陷
             聚焦强度值相对较小。对于瞬时相位全聚焦成像,                            的定位误差显著减小,补偿前 5 个缺陷的定位误差
             由于将时域幅值信号转换成相位信号,直达波、缺陷                           平均值为 26.38 mm,补偿后的定位误差平均值为

             的散射回波、端面回波信号都转换为 (−π, π) 的瞬                       12.94 mm,有效提高了缺陷的定位精度。此外 5 个
             时相位值,因此在缺陷附近 (400∼500 mm) 表现为
             强度值高度聚焦,但是在缺陷附近产生了多个波峰
             的强度值。在瞬时相位包络全聚焦的强度曲线中,                                   200                             0.9
                                                                                                      0.8
             缺陷附近的强度值高于幅值全聚焦,并且在正常区                                  ᡰሏ/mm 100                        0.7
                                                                      300
             (50∼450 mm) 的强度值均低于幅值成像,因此瞬时                             400                             0.6
             相位包络全聚焦成像具有更好的信噪比,降低了缺                                   500   0  200  400  600  800  1000  0.5
                                                                                  ᡰሏ/mm
             陷的误检率。除此之外,相位包络全聚焦在缺陷附
             近只表现为一个聚焦峰值,因此更容易对缺陷进行                                     图 5  补偿后的相位包络全聚焦成像
             定位。                                               Fig. 5 Compensated phase envelope total focus imaging
   89   90   91   92   93   94   95   96   97   98   99