Page 33 - 《应用声学》2021年第2期
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第 40 卷 第 2 期 许凡等: 基于三元伪随机序列集的多声源房间脉冲响应测量方法 201
测量方法存在两个缺陷:其一,该方法规定编码信
0 引言
号和解码信号都只能是二元信号;其二,该方法规
在房间声学领域,诸多情况下需要测量多个声 定编码信号和解码信号完全相同。该方法对于编码
源的房间脉冲响应。例如,在构建房间几何模型的 信号和解码信号的这两个约束是由 Gold 序列集或
算法中,常会使用多个声源以增加测量精度 [1−6] , Kasami序列集的数学性质决定的,但是这两个约束
这就需要对多个声源进行并行测量,以降低测量时 对于声学测量而言并无必要,反而限制了编码信号
间,提高测量准确度。 和解码信号的可选空间,使得序列集的相关特性存
一方面,扫频信号是声学测量领域一种测量单 在较大的可优化空间。这就导致实际测量中,由于
个声源的传统的测量信号。为了缩短使用扫频信号 各通道干扰而产生的噪声较大,极大地限制了测量
测量多个声源的时间,Majdak 等 [7] 提出了多重对 准确度。
数扫频方法 (Multiple exponential sweep method, 为了解决这个问题,本文使用最佳屏蔽零相关
MESM),将不同声源重放的扫频信号部分重叠以 域序列偶集(Optimized punctured zero correlation
提高测量效率。此后,Dietrich 等 [8] 降低了该算法 zone sequence-pair set,以下简称OPS)作为编解码
非线性分量的相互干扰,进一步缩短了测量时间。 序列集 [13] 。2004 年,蒋挺等 [14] 在研究最佳二进序
MESM 的优点在于,对每个声源而言,其测量信号 列的基础上,提出了最佳屏蔽二进序列偶。随后,许
均相当于是扫频信号,因此测量准确度较高,且不会 蕾等 [15] 将最佳屏蔽二进序列偶应用于构造零相关
受到待测声源非线性特性的影响。然而,这种方法 域序列集,并提出了构造 OPS 信号的方法。此后,
将不同声源的重放过程错开,测量时间仍然长于单 OPS 信号被应用于多输入多输出 (Multiple-input
个扫频信号,且仍可能引入由于各通道不同步而产 multiple-output, MIMO) 雷达中,用以提高 MIMO
生的额外误差。 雷达的距离分辨率 [13,16] 。相比于 Gold 序列集或
另一方面,二元伪随机序列在声学测量领域得 Kasami 序列集,OPS 信号的解码信号为三元信号,
到了极为广泛的应用,如M 序列 (Maximum-length 且编码信号和解码信号并不相同,并由此获得了更
sequence) 常用于测量扬声器频率响应或者房间脉 好的相关特性。
冲响应 [9] 。M 序列作为测量信号,最主要的优点是 本文第 1 节简述了利用 Kasami 信号和 OPS 信
生成方便、计算简单。在计算资源尚不充足的年代 号进行多声源同时测量的原理,以及这两种信号的
发挥了重要的作用 [10] 。然而,同扫频测量等其他传 相关特性和生成方法;第2节通过仿真实验,对比了
统的测量方法类似的是,M 序列每次只能测量一个 扫频信号、Kasami 信号和 OPS 信号作为测量信号
声源,难以满足对于多声源同时测量的需求。 时,脉冲响应测量结果的差异,并研究了声源个数、
为了缩短使用二元伪随机序列测量多个声 序列阶数等因素对于测量结果的影响;第 3 节通过
源的时间,Xiang 等 [11] 拓展了传统的二元伪随 实验进行验证;第4节为结论。
机序列测量方法,使用互逆 M 序列对 (Reciprocal
maximum-length sequence pairs) 同时测量两个声 1 多声源同时测量方法
源。但是,由于互逆M序列对的特殊性,将该方法直
1.1 测量原理
接推广到多声源时遇到了困难。此后,Xiang 等 [12]
考虑有 p 个扬声器,q 个传声器,各个声源同时
利用 M 序列生成 Gold 序列集与 Kasami 序列集,其
重放测量信号。如图 1 所示,设 s i (n) 为第 i 个声源
具有类似互逆 M 序列对的自相关和互相关性质的
发出的信号,也即该测量系统的编码信号,则第j 个
特点,成功将该方法推广到多声源情况,实现了多声
传声器接收到的信号r j (n)可表示为
源同时测量。相比于 MESM,使用二元伪随机序列
p
进行测量,所有声源同时重放测量信号,因此总测 r j (n) = ∑ h ij (n) ∗ s i (n), (1)
量时间与单个声源的测量时间相同,测量效率更高。 i=1
此外,由于所有声源同时测量,该测量方法可以避免 其中,h ij (n) 表示第 i个扬声器到第 j 个传声器的房
由于各通道不同步而引入的额外误差。然而,这种 间脉冲响应,∗表示线性卷积。