Page 216 - 《应用声学》2025年第1期

212 2025 年 1 月

表 2 800∼951 Hz 频域 (1/4 倍频程) 移相各 定位激光笔、可旋转支架、方向角刻度盘、定位铅锤
相位最大偏差分布 等组成 (用于线阵列工作面与方向角刻度盘的位置
Table 2 800–951 Hz frequency domain
校准)，实物如图 12(b)、图 12(c) 所示。整个系统包
(1/4 octave) shift maximum deviation dis-
括线阵列、分频器、移相器、功放以及信号源等。
tribution of each phase
3.2.2 测试结果
移相角 30 ◦ 60 ◦ 90 ◦ 120 ◦ 150 ◦ 180 ◦
800 Hz −2.5 ◦ −4.7 ◦ −6.1 ◦ −4.9 ◦ −2.7 ◦ 0 ◦ 分别测量 200 Hz、250 Hz、400 Hz、500 Hz、
951 Hz 2.6 ◦ 4.8 ◦ 6.0 ◦ 4.9 ◦ 2.6 ◦ 0.1 ◦ 800 Hz、2000 Hz、4000 Hz、8000 Hz、12.8 kHz 等几
个频点，滤波加权模式分别选取切比雪夫和泰勒两
3.2 声学测试
种加权。其中250 Hz、500 Hz还增测了无加权模式。
3.2.1 测试环境与装置
首先，测量 200 Hz 时 5 阵元等差相位分别为
为了相对准确地测量线阵列声场特性，选择一
30 和 60 的声压级分布情况，测试结果如图 13 和
◦
◦
个具有一定吸声、隔声能力的声频测试环境，声压
图 14所示。从图中曲线可以看出，此时该线阵列的
级测量采用 CLIO 系统，为方便、快速测量，制作
指向性偏转是存在的，但左右两侧的声压级差仅为
如图 12(a) 所示的指向性测量装置，该装置由测试、
5∼10 dB，凭耳朵也能分辨。相位差为 60 的比 30 ◦
◦
的最高声压级的位置会偏离中心线更大的角度，两
CLIO ᝈएૉᇨ٨
฾តጇፒ 者大约相差20 。
◦
ੴܦ٨᫼ѵ
᭤฾តӝ ᭤฾តӝ 80 20O 10O 0O -10O -20O
30O -30O
70
60O 60O 60 40O -40O
Ի஽ᣁ ܦԍጟ/dB 50 60O 50O -50O
-60O
͜ܦ٨ 40
ஃ౶ 30
20
฾ត͜ܦ٨
10 ฑҿ
ѭඋᭃܻ
0
(a) ᜉᎶፇ౞ᇨਓڏ
图 13 200 Hz 的声压级分布 @ 各相位差为 30 ◦
ᜂ฾ጳ᫼ѵ ηՂܫေ Fig. 13 Sound pressure distribution at a frequency
ࠀͯ༏Аቸ ฾ត͜ܦ٨
of 200 Hz @each phase difference is 30 ◦
Ի஽ᣁஃ౶ 10O 0O -10O
ڡ᭧҉ए 80 20O -20O
70 30O -30O
40O -40O
ܦԍጟ/dB 60O -60O
ࠀͯᨥ᩻ 60 50O -50O
50
ᝈए҉एᄨ 40
30
20
(b) ᜉᎶࠄྭڏ
10 ฑҿ
ѭඋᭃܻ
0
图 14 200 Hz 的声压级分布 @ 各相位差为 60 ◦
Fig. 14 Sound pressure distribution at a frequency
of 200 Hz @each phase difference is 60 ◦

其次，测量 250 Hz 时 5 阵元相位差分别为 30 ◦
和60 声压级分布情况，测试结果如图15和图16所
◦
示。无加权模式下的声压级情况也显示在图中。
(c) ᝈए҉एᄨ
图 12 指向性测量装置 接着测量400 Hz、500 Hz和800 Hz时7阵元相
◦
Fig. 12 Directivity measuring device 位差分别为 30 和 60 声压级分布情况，测试结果
◦