Page 36 - 《应用声学》2020年第3期
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             (i = 1, 2, · · · , N),其中 ω t 为发射权重,ω r 为接收              ి   ሪ   ሪ   ి           ి   ሪ   ి
                                                                     ጇ   Ⴀ   Ⴀ   ጇ           ጇ   Ⴀ   ጇ
             权重。                                                     ஝   ᫼   ᫼   ஝           ஝   ᫼   ஝
                                                                        Ћ   Ћ             n֓  Ћ   n
                 在所述算法过程中,构造合适的适应度函数是
             保证PSO 算法收敛性和阵列优化效果的关键,在此                                                 ĀĀ
             验证了之前相关研究文章中所设计的适应度函数:

                                                                        t x
                     fitness 1 = {PSL},                                                r x
                     fitness 2 = {|20 lg(PML/PSL)|}.    (2)
                                                                                 ↼x֒z↽
                 在计算过程中发现 fitness 1 和 fitness 2 所迭代
                                                                      图 1  稀疏阵列的全聚焦优化成像示意图
             出的稀疏阵列和算法收敛性效果欠佳,难以在迭代
                                                                  Fig. 1 Total focus imaging for sparse array with
             完成后得到理想的结果。
                                                                  optimization
             1.2 基于线阵权重补偿的全聚焦成像算法
                 考虑一维线性阵列探头放置于各向同性的均                           2 实验与全矩阵数据采集
             匀介质表面,模拟缺陷点散射体位于介质内部,建立
                                                                   以标准 B 型相控阵试块上圆弧形分布且直径
             基于全矩阵的全聚焦成像算法模型。基于全矩阵采
                                                               为2 mm的孔状缺陷为检测对象,检测区域如图2所
             集数据的全聚焦成像方法可有效实现全范围动态
                                                               示,缺陷大小及分布如图 3 所示。使用 5L32-0.6×10
             聚焦,具有极高的成像分辨率,然而全阵元收发数据
                                                               型超声相控阵换能器,阵元数为 32,阵元间距为
             量十分巨大,成像时间与数据量呈指数倍增长,全聚
                                                               0.6 mm,宽度 0.5 mm,中心频率 5 MHz,试块为钢
             焦成像算法中点(x, z)的幅值可表示为
                                                               材,声速为 5900 m/s,通过全阵元逐次激励和接收
                             N T N R
                             ∑ ∑
                    I(x, z) =       C ij e ij (t ij (x, z)),  (3)  进行全矩阵数据采集。
                             i=1 j=1
             式 (3) 中,C ij 为声波在楔块 -试块传播时的总能量                                                    ߘ
                                                                                ੇϸӝ۫
             衰减校正系数,t ij (x, z) 为声波从第 i 个阵元传播至
             点(x, z)处并返回第j 个阵元的时间,在各向同性介
             质中可表示为
                        √               √
                                                2
                                2
                                     2
                          (x i −x) + z +  (x j −x) +z 2
              t ij (x, z)=                            . (4)                   ߘ
                                      c
                 根据文献 [10,18] 中所述研究结果,要使得稀疏
             阵列与全阵列性能一致,需要对收发阵元进行权重
                                                                           图 2  检测缺陷区域示意图
             补偿,使得满足
                                                                  Fig. 2 Schematic diagram of detection areas
                             I
                      I
                     u (r) ⊗ v (r)
                       II
                                        II
                  = (u (r) · ω T (r)) ⊗ (v (r) · ω R (r)),  (5)                               10    3
             式(5)中,ω T 、ω R 为发射和接收阵元的权重函数,其                                    R50
             中发射、接收阵元所对应的阵元的权重修正系数为                                                     18-φ2
             ω i 、ω j ,将修正权值代入式(3),得到修正后的全聚焦                            60
             成像幅值:
                                                                                  5°
                      N T N R                                              7°
                      ∑ ∑               j
                                 i
             I(x, z) =       C ij ω (x, z)ω (x, z)e ij (t ij (x, z)).
                                 T
                                        R
                      i=1 j=1
                                                                                    75
                                                        (6)
                 根据上述推导,提出基于稀疏阵列的全聚焦优                                        图 3  试块缺陷尺寸图
             化成像方法,如图1所示。                                                Fig. 3  Defects size of specimen
   31   32   33   34   35   36   37   38   39   40   41